| 1 高頻Q表/介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)、體表面電阻測(cè)試儀系列: |
| 1.1 QBG-3F全數(shù)字顯示高頻Q表(DDS數(shù)字合成 10KHz-110MHz) |
| 1.2 QBG-3E全數(shù)字顯示高頻Q表(DDS數(shù)字合成 10KHz-70MHz) |
| 1.3 AS2853A全數(shù)字式超高頻Q表(DDS數(shù)字合成 100KHz--160MHz) |
| 1.4 AS2855高頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng) |
| 1.5 AS2838/AS2878低頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng) |
| 1.5 AS2855-D工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng) |
| 1.7 AS-121/AS-212體表面電阻測(cè)試儀 |
| 1.8 S916數(shù)顯平板電容器 |
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| 2 RDIF射頻電子標(biāo)簽測(cè)試儀 |
| 2.1 QBG-5C HF/LF射頻標(biāo)簽測(cè)試儀 (集成QBG-5A/QBG-8A一體） |
| 2.2 QBG-5A射頻電子標(biāo)簽(RFID)測(cè)試儀(1-30MHZ,測(cè)試諧振頻率,Q值,帶寬,測(cè)量計(jì)數(shù),頻譜曲線(xiàn)) |
| 2.3 QBG-7A射頻電子標(biāo)簽(RFID)測(cè)試儀(1-30MHZ,測(cè)試諧振頻率,Q值,IS014443/B協(xié)議測(cè)試,ISO15693協(xié)議測(cè)試) |
| 2.4 QBG-8A射頻電子標(biāo)簽(RFID)測(cè)試儀(50-200KHZ,測(cè)試諧振頻率,Q值) |
| 2.5 QBG-5B 高頻標(biāo)簽測(cè)試儀（生產(chǎn)線(xiàn)專(zhuān)用） |
| 2.6 QBG-6射頻電子標(biāo)簽生產(chǎn)線(xiàn)測(cè)試儀 |
| 2.7 QBG-6C 高頻標(biāo)簽多卡測(cè)試系統(tǒng) (支持在線(xiàn)實(shí)時(shí)測(cè)試） |
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| 3 學(xué)校實(shí)驗(yàn)系統(tǒng) |
| 3.1 ASTV-2 數(shù)字電視實(shí)驗(yàn)系統(tǒng) |
| 3.2 ASGP-1A高頻電子線(xiàn)路實(shí)驗(yàn)箱 |
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| 4 視頻信號(hào)發(fā)生器 |
| 4.1 AS305E彩色電視信號(hào)發(fā)生器（射頻輸出） |
| 4.2 AS5377彩色電視信號(hào)發(fā)生器（射頻輸出） |
| 4.3 AS5381高清多制式電視信號(hào)發(fā)生器(HDMI/1.3高清輸出、能效測(cè)試信號(hào)、HDCP校驗(yàn)功能) |
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| 5 交流毫伏表系列 |
| 5.1 數(shù)字/模擬超高頻毫伏表（射頻毫伏表） |
| 5.2 雙通道/單通道交流毫伏表 |
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